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TD-SCDMA终端测试仪端口回波损耗匹配参数分析
全部作者： 杨李娜 邓刚 田辉 第1作者单位： 北京邮电大学电信工程学院无线新技术研究所 论文摘要： 考虑到端口参数范围的确定对测量仪器的重要性，本文提出了1种TD-SCDMA终端测试仪端口回波损耗匹配参数的确定和测量分析方法。简要的从TD-SCDMA终端测试仪的应用背景、系统结构和主要端口参数等方面对其进行分析，提出了两种端口回波损耗参数的测量方法，并分析说明了终端测试仪内部级联模块整体回损参数的计算和确定。通过ADS仿真和矢量网络分析仪实测曲线对比分析，证实可用系统前级射频合路模块的端口回波损耗参数确定TD-SCDMA终端测试仪的端口回损参数的结论。 关键词： TD-SCDMA终端测试仪，终端测试仪系统结构，端口匹配参数，级联回波损耗 (浏览全文) 发表日期： 2007年10月26日 同行评议：
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